Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1450| Назва: | Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits |
| Автори: | Ivanov, Dmitry Skobtsov, Yurij El-Khatib |
| Ключові слова: | digital circuit genetic algorithm fault simulation parallel simulation multi-core processo islands model |
| Дата публікації: | 2006 |
| Видавництво: | Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06). |
| Бібліографічний опис: | Skobtsov Y.A., El-Khatib, Ivanov D.E. Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits // Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06).- 2006: Sochi.- p.89-94. |
| Короткий огляд (реферат): | Fault simulation is on of the most highly compute-intensive task in the technical diagnostics. One of the ways to speed-up this process is a parallelization on the calculation cluster. In this paper a distributed algorithm for fault simulation of digital circuits is presented. It is based on the well-known «master-slave» approach in which one processor is nominating as a master and rules all calculation on the all slave’s processors. To reach the maximal utilization of the processors in the cluster it is used schema with static fault list partitioning. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1450 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits.pdf | 178,75 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.