Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/1450
Название: Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits
Авторы: Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Yurij
El-Khatib
Ключевые слова: digital circuit
genetic algorithm
fault simulation
parallel simulation
multi-core processo
islands model
Дата публикации: 2006
Издательство: Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06).
Библиографическое описание: Skobtsov Y.A., El-Khatib, Ivanov D.E. Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits // Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06).- 2006: Sochi.- p.89-94.
Краткий осмотр (реферат): Fault simulation is on of the most highly compute-intensive task in the technical diagnostics. One of the ways to speed-up this process is a parallelization on the calculation cluster. In this paper a distributed algorithm for fault simulation of digital circuits is presented. It is based on the well-known «master-slave» approach in which one processor is nominating as a master and rules all calculation on the all slave’s processors. To reach the maximal utilization of the processors in the cluster it is used schema with static fault list partitioning.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1450
Располагается в коллекциях:Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits.pdf178,75 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.