Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/1449
Название: Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits
Авторы: Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Yurij
El-Khatib
Ключевые слова: genenic algorithms
distributed calculations
test generation
fault simulation
digital circuits
Дата публикации: 2006
Издательство: Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.
Библиографическое описание: Skobtsov Y.A., El-Khatib, Ivanov D.E. Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits // Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.-Tallinn Technical University,2006.-p.281-284.
Краткий осмотр (реферат): The distributed genetic algorithms are considered for problem of test generation. The different forms of parallelization of genetic algorithms are investigated for test generation.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1449
Располагается в коллекциях:Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
skobtsov-bec2006.pdf194,45 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.