Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/1445
Название: Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits
Авторы: Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Vadim
Skobtsov, Yurij
Ключевые слова: evolutionary computations
genetic algorithm
sequential circuits
test generation
parallel algorithm
islands model
Дата публикации: 2008
Издательство: Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany
Библиографическое описание: Y.A. Skobtsov, D.E. Ivanov, V.Y. Skobtsov Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits // Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany.- pp.213-218.
Краткий осмотр (реферат): The genetic algorithms of test generation and fault simulation for digital circuits are considered. The main modes of genetic algorithm parallelization for test generation and simulation are represented - “worker-farmer”, “island model”. The program implementation and computer experiments of proposed methods are discussed.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1445
Располагается в коллекциях:Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Distributed evolutionary test generation.pdf104,8 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.