Донецкий национальный технический университет
Просмотр собрания по группе - Тема BIST
Результаты 1 по 3 из 3
| Дата выпуска | Название | Автор(ы) |
| 2005 | Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BIST | Skobtsov, Y.A.; Ivanov, D.E.; Skobtsov, V.Y.; Ubar, R.; Raik, Y. |
| 2004 | Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits | Ivanov, Dmitry; Skobtsov, Yurij; Skobtsov, Vadim; Ubar, Raimond |
| 2012-02-02 | Лаборатория ДонНТУ «FPGA-технологии проектирования и диагностика компьютерных систем» | Зинченко, Юрий Евгениевич; Калашников, Виктор Иванович; Хайдук, Стэнли; Бобровский, Константин Викторович; Дяченко, Олег Николаевич; Корченко, Александр Александрович; Гриценко, Антон Александрович; Ханаев, Владимир Викторович; Зинченко, Татьяна Анатольевна; Войтов, Геннадий Владимирович; Сероштан, Сергей Юрьевич |