1. Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ

Пошук


Поточні фільтри:
Почати новий пошук
Додати фільтри:

Використовуйте фільтри для уточнення результатів пошуку.

 | 
Результати 1-3 зі 3.
  • назад
  • 1
  • далі
Знайдені матеріали:
Дата випускуНазваАвтор(и)
2004Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Yurij; Skobtsov, Vadim; Ubar, Raimond
2008Evolutionary distributed test generation methods for digital circuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Vadim; Skobtsov, Yurij
2011-05THE DISTINGUISHING FUNCTIONS IN TEST GENERATION OF DIGITAL SEQUENTIAL CIRCUITS WITH MULTIPLE OBSERVATION TIME STRATEGYСкобцов, Юрий Александрович; Скобцов, Вадим Юрьевич

Перегляд