Пошук


Поточні фільтри:
Почати новий пошук
Додати фільтри:

Використовуйте фільтри для уточнення результатів пошуку.


Результати 1-10 зі 11.
Знайдені матеріали:
Дата випускуНазваАвтор(и)
2006Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital CircuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Yurij; El-Khatib
2004Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Yurij; Skobtsov, Vadim; Ubar, Raimond
2008Evolutionary distributed test generation methods for digital circuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Vadim; Skobtsov, Yurij
1997Time Optimization for Test GenerationANDRYUKHIN, Alexandr Ivanovich,Андрюхин А.И.
2005Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BISTSkobtsov, Y.A.; Ivanov, D.E.; Skobtsov, V.Y.; Ubar, R.; Raik, Y.
2009Взаимодействие компонент в распределённых генетических алгоритмах генерации тестовИванов, Д.Е.; Чебанов, П.А.; Ivanov, D.E.; Сhebanov, P.A.; Іванов, Д.Є.; Чебанов, П.О.
2011-05THE DISTINGUISHING FUNCTIONS IN TEST GENERATION OF DIGITAL SEQUENTIAL CIRCUITS WITH MULTIPLE OBSERVATION TIME STRATEGYСкобцов, Юрий Александрович; Скобцов, Вадим Юрьевич
2013Еволюційні методи генерації тестів для неконстантних несправностейНАССЕР ІЯД К.М.; НАССЕР ИЯД К.М.; NASSER Iyad K.M.
2011Evolutionary test generation methods for digital devicesSkobtsov, Yuriy; Skobtsov, Vadim
2002Приминение адаптивных генетических алгоритмов для генерации тестов цифровых схемСкобцов, Ю.А.; Иванов, Д.Е.; Скобцов, В.Ю.; Закусило, С.А.