Skip navigation
Головна сторінка
Перегляд
Фонди та зібрання
Перегляд матеріалів за:
Дати випуску
Автори
Заголовки
Теми
Довідка
Мова
English
русский
українська
Зареєстрованим:
Мій архів матеріалів
Оновлення на e-mail
Обліковий запис
Донецький національний технічний університет
Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ
Пошук
Пошук:
Весь архів електронних ресурсів
Архів публікацій до 2014 року
Випускні кваліфікаційні роботи (проекти)
Відділ міжнародних зв’язків
Гірничий факультет
Інститут комп'ютерних наук і технологій
Навчально-науковий індустріальний інститут
Наукові видання ДонНТУ
Наукові праці ДонНТУ
Факультет Економіко-гуманітарний
Факультет Комп'ютерно-інформаційних технологій та автоматизації
Факультет машинобудування, електроінженерії та хімічних технологій
запит
Поточні фільтри:
Назва
Автор
Тема
за датою випуску
Has File(s)
Дорівнює
Містить
ID
Не дорівнює
Не містить
Не ID
Почати новий пошук
Додати фільтри:
Використовуйте фільтри для уточнення результатів пошуку.
Назва
Автор
Тема
за датою випуску
Has File(s)
Дорівнює
Містить
ID
Не дорівнює
Не містить
Не ID
Результати 1-10 зі 11.
назад
1
2
далі
Знайдені матеріали:
Дата випуску
Назва
Автор(и)
2006
Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits
Ivanov, Dmitry
;
Skobtsov, Yurij
;
El-Khatib
2004
Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits
Ivanov, Dmitry
;
Skobtsov, Yurij
;
Skobtsov, Vadim
;
Ubar, Raimond
2008
Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits
Ivanov, Dmitry
;
Skobtsov, Vadim
;
Skobtsov, Yurij
1997
Time Optimization for Test Generation
ANDRYUKHIN, Alexandr Ivanovich,Андрюхин А.И.
2005
Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BIST
Skobtsov, Y.A.
;
Ivanov, D.E.
;
Skobtsov, V.Y.
;
Ubar, R.
;
Raik, Y.
2009
Взаимодействие компонент в распределённых генетических алгоритмах генерации тестов
Иванов, Д.Е.
;
Чебанов, П.А.
;
Ivanov, D.E.
;
Сhebanov, P.A.
;
Іванов, Д.Є.
;
Чебанов, П.О.
2011-05
THE DISTINGUISHING FUNCTIONS IN TEST GENERATION OF DIGITAL SEQUENTIAL CIRCUITS WITH MULTIPLE OBSERVATION TIME STRATEGY
Скобцов, Юрий Александрович
;
Скобцов, Вадим Юрьевич
2013
Еволюційні методи генерації тестів для неконстантних несправностей
НАССЕР ІЯД К.М.
;
НАССЕР ИЯД К.М.
;
NASSER Iyad K.M.
2011
Evolutionary test generation methods for digital devices
Skobtsov, Yuriy
;
Skobtsov, Vadim
2002
Приминение адаптивных генетических алгоритмов для генерации тестов цифровых схем
Скобцов, Ю.А.
;
Иванов, Д.Е.
;
Скобцов, В.Ю.
;
Закусило, С.А.
Перегляд
Автор
3
Ivanov, Dmitry
3
Skobtsov, Vadim
3
Skobtsov, Yurij
2
Ivanov, D.E.
2
Иванов, Д.Е.
1
ANDRYUKHIN, Alexandr Ivanovich,Ан...
1
El-Khatib
1
NASSER Iyad K.M.
1
Raik, Y.
1
Skobtsov, V.Y.
.
далі >
Тема
5
genetic algorithm
3
digital circuits
3
sequential circuits
3
генерация тестов
2
BIST
2
functional approach
2
genetic algorithms
2
генетические алгоритмы
1
ATPG
1
circuits description language
.
далі >
за датою випуску
3
2010 - 2013
6
2000 - 2009
2
1990 - 1999
Has File(s)
11
true