Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/4124
Назва: Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур
Інші назви: Switching simulation and diagnosis of the basic model faults of CMOS structures
Автори: Андрюхин, А.И.
Ключові слова: дефект
МОП-схема
переключательный анализ
МОП-структура
BGP
fault
MOS- scheme
switching analysis
MOS- structure
Дата публікації: 18-чер-2011
Видавництво: Донецкий национальный технический университет
Бібліографічний опис: А.И. Андрюхин. Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур // Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 13 (185), Донецк, ДонНТУ, 2011. – С. 54-65.
Короткий огляд (реферат): Review of fault models is presented in the first part of article. Examples of the switching analysis of MOS structures are considered. The importance of BGP to simulate faults of MOS structures at the present stage is presented.
Опис: Представлен обзор основных дефектов МОП-схем. Рассматриваются примеры переключательного анализа МОП-структур. Представлена важность BGP для моделирования неисправностей МОП-структур на современном этапе.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4124
ISSN: ISSN 1996-1588
Розташовується у зібраннях:Випуск 13 (185)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
2_02.pdf825,24 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.