Поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-1 из 1.
  • назад
  • 1
  • дальше
Найденные ресурсы:
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2004Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Yurij; Skobtsov, Vadim; Ubar, Raimond